固体继电器的ESD-HBM ESD-CDM检测服务-电子产品可靠性与环境试验

广州广电计量检测股份有限公司

电工电子元器件环境应力筛选试验 
        环境应力的筛选试验主要有以下情形：
  在电子产品上施加随机振动及温度循环应力，以鉴别和剔除产品工艺和元件引起的早期失效的一种工序或方法.
       为发现和排除不良零件、元器件、工艺缺陷和防止出现早期失效，在环境应力下所做的一系列试验。
为发现和排除不良零件、元器件、工艺缺陷和防止出现早期失效，在环境应力下所做的一系列试验。
       为暴露产品的薄弱部分及质量缺陷，在环境应力下所做的一系列试验。
       在环境应力作用下的一系列试验，目的是暴露薄弱部件及工艺缺陷，以便纠正。
主要依据的标准有：
        GJB1032-90
        GJB451-90
        MIL-STD-721C-81
        MIL-STD-785B-80

广电计量的可靠性分析与评价技术包括可靠性分析技术、环境应力筛选试验技术、可靠性试验、装备可靠性及寿命评估技术等。
1、可靠性分析技术
      可靠性分析技术是产品可靠性设计的重要技术手段，通过可靠性分析了解产品设计方案存在的问题和风险，并通过设计改进将潜在的失效原因消灭在设计阶段，达到设计预防的目的。可靠性分析技术主要包括故障模式、影响机危害性分析（FMECA分析）、故障树分析（FTA分析）、可靠性预计、可靠性建模等内容。
2、环境应力筛选技术
      环境应力筛选是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验。通过向产品施加合理的环境应力和电应力，将其内部的潜在缺陷加速变成故障，以便发现并排除。
        环境应力筛选是装备研制生产的一种工艺手段，筛选效果取决于施加的环境应力、电应力水平和检测仪表的能力。施加应力的大小决定了能否将潜在的缺陷在预定时间内加速变为故障；检测能力的大小决定了能否将已被应力加速变成故障的潜在缺陷找出来，以便加以排除。因此，环境应力筛选又可看作是产品质量控制检查和测试过程的延伸。

测试项目：
产品名称：元器件筛选（元器件二次筛选，元器件一次筛选，元器件一筛，元器件二筛，器件国产化验证。）
元器件筛选基本概念：
一、必要性
元器件生产方所开展的一次筛选的项目与应力条件很难完全满足装备研制的需要，进口的元器件通常都是工业级或中低档产品，甚至存在假冒伪劣产品，难以保证质量和可靠性。
二、目标
设法在一批元器件中剔除那些由于原材料、设备、工艺、环境、人为等方面潜在的不良因素所造成的有缺陷的，或可能发生早期失效的器件，而挑选出具有一定特性的合格元器件
三、意义
经过元器件筛选，产品的批次使用可靠性水平显著提高，标准工况下使用，产品失效率可降低半个到两个数量级，产生可观的经济效益
四、特点
1.不改变元器件固有可靠性，非破坏性试验；
2.对批次产品进行筛选；
3.剔除早期失效品，提高元器件使用可靠性；
4.筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。
在装备的研制生产中，元器件二次筛选（补充筛选）主要适用于下面几种情况：
1、元器件生产方未进行一次筛选。
2、元器件使用方无法获得一次筛选的信息，对一次筛选的项目和应力不了解。进口元器件存在此种情况居多。
3、元器件生产方进行一次筛选的项目或应力不能满足使用方对元器件的质量和可靠性要求。元器件使用方的筛选要求一般由型号总体单位确定。
4、对于一些的筛选项目，在元器件的产品规范中未作具体规定，元器件的生产方也不具备筛选条件。
5、对元器件生产方是否已按合同和规范的要求进行一次筛选或对其一次筛选的有效性有疑问的，需要进行验证的元器件。
元器件二次筛选是对一次筛选的补充，应在一次筛选的项目和应力基础上，综合考虑元器件的使用条件和应用环境。性：各单位承担任务不同，对产品的可靠性要求不同，故没有一个统一的筛选规范标准。

环境应力筛选的主要试验为： 
       电应力筛选：加电工作试验、加电加负荷试验；
       温度应力筛选：高温、低温、高温工作或低温工作；
        环境应力筛选：温度变化；
        机械应力筛选：冲击或振动；
       其他筛选：参数筛选、一致性筛选。
       目前配套综合环境试验设备（温度+湿度+振动+电应力）和HALT和HASS试验箱，可按产品的使用环境设计及开展可靠性试验，可开展各类大小型产品的可靠性试验。

元器件检测室拥有集成电路测试仪、分立器件测试仪、RLC测试仪、电磁继电器测试仪、运放测试仪、DC/DC模块测试仪、颗粒碰撞噪声检测仪、温度冲击箱、离心机、多功能综合老化系统、集成电路高温动态老化系统、电容器高温老化台、DC/DC模块老化系统、高温反偏试验箱、高低温试验箱、冲氦充氮氟油平台、氦质谱检漏仪等国内测试设备。具备大、中、小规模集成电路（TTL、CMOS、GAL、ACT、通用运放、电压调整器、非线性电路、A/D、D/A、V/F、F/V、驱动器、时基、单片CPU、MP接口、RAM、EPROM、锁相环等器件），分立器件（开关、整流、变容、稳压、稳流、光电、场效应、闸流、可控硅、光电耦合器等分立器件）、元件（电阻、电位器、电阻网络、电感、电容器、线圈、继电器等）测试能力，可检测的元器件品种达5000种以上。

可靠性评估技术
        可靠性评估就是利用产品寿命周期各阶段所产生的试验或使用信息，用概率统计的方法给出产品在某一特定条件下的可靠性特征量的估计值，一般为给定置信度下的产品可靠性参数，如平均故障间隔时间、可靠度、无故障运行时间等的下限估计值。
        进行装备可靠性评估的程序、方法以及数据处理、评估时遵循的原则及工程实施的约定,并结合实际型号开展了可靠性评估工作。具备开展单元可靠性评估和系统可靠性评估的能力。其中单元可靠性评估主要包括各类统计模型数据的可靠度点估计和给定置信度的单边和双边置信限评估，如二项分布、指数分布、Weibull分布、正态分布、对数正态分布等。系统综合可靠性评估方法包括小子样贝叶斯方法和计算机仿真方法。其中小子样Bayes方法是解决可靠性信息不足的有效方法之一，也是目前装备研制阶段“小子样、多阶段、异总体”情况下值得推荐的方法。另一个解决复杂系统的可靠性综合评估方法是计算机仿真技术，对未知分布形式的单元或系统有很好的效果。

筛选设备：
电测试主要设备能力：阻抗分析仪，高阻计，耐压测试仪，半导体参数测试系统，高精度图示仪，网络分析仪，信号发生器，频谱分析仪，数字集成电路测试系统，模拟集成电路测试系统，继电器测试系统，LCR、电阻计等，电源模块测试系统